意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)
簡要描述：意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)Politrack是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
產(chǎn)品型號：Politrack- 廠商性質(zhì)：代理商
- 更新時間：2024-06-03
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意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)Politrack簡介：
•Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。
•Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應(yīng)用于各類研究，氡和中子的劑量測定。
•Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
•掃描面積可達 205x205 mm2，用戶可定義探測器尺寸和讀取面積。通過 OCR 讀取探測器ID。
•在掃描開始時執(zhí)行的自動對焦例程可確保在整個讀取過程中使圖像聚焦探測器表面。
•形態(tài)分析會將對來自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進行分類，并去除本底噪聲。
•形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能，用戶可以看到應(yīng)用濾鏡后會發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài)，并且以此進行修改參數(shù)范圍或強度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進行校正。
•輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測器相關(guān)數(shù)據(jù)，用戶可以自定義輸出模板和格式（與Excel*兼容）。
意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)Politrack特點：
•任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數(shù)
•精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
•CR-39檢測器老化校正
•LR115殘余厚度校正
•重疊校正
•清晰明確的算法，不存在黑匣子
•操作員可設(shè)置和修改所有參數(shù)
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域：
•各類研究工作
•劑量測定服務(wù)
•氡測量
•快中子
•熱中子
•LET光譜
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)操作方法：
用戶可以定義探測器的類型和尺寸，讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。
所有算法清晰明確，用戶可以通過功能強大的圖形工具輕松修改和/或應(yīng)用形態(tài)分析濾鏡，并實時可視化結(jié)果。若需更改參數(shù)，可直接使用二次計算工具，而無需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關(guān)掃描數(shù)據(jù)，用戶可自定義輸出模板和格式。
| 蜂窩抗振面包板 | 550x750x40毫米 |
| 三軸微步電機控制板 | |
| 顯微鏡： | 4x +針孔（rad）; 20x +冷凝器（中子） |
| 掃描架 | 200x200 mm |
| Z軸精密線性平臺 | 重復精度+/- 0.5微米 |
| 相機 | 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n，30幀/秒 |
| XY電動掃描臺 | 205x205mm，90mm / sec，分辨率<1微米 |
| LED系統(tǒng) | 用于樣品背光 |
| 軟件包： | CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀 |
